產(chǎn)品詳情
字體高度保持在0.060英寸，佳實(shí)踐–布線:板之間的標(biāo)準(zhǔn)間距為0.100英寸，可以提供用于突耳的位置，寬度和孔的圖案，但是除非要求，否則可以對(duì)其進(jìn)行編輯以提高可制造性，$$$$–更改控制:確保您的文檔中包含修訂字母/編號(hào)。
梅特勒自動(dòng)水份滴定儀維修規(guī)模大
我公司專業(yè)維修各種儀器，維修經(jīng)驗(yàn)二十年，維修的主要品牌有：英國Foundrax、美國GR、美國杰瑞、意大利Gibitre、意大利蓋比特、德國Hildebrand、海德堡、荷蘭Innovatest、德國KB、美國LECO力可、力可、日本Matsuzawa松澤、雷克斯、日本Mitutoyo三豐、瑞士PROCEQ博勢、奧地利Qness、美國Rex雷克斯、丹麥Struers司特爾、日本shimadzu島津、威爾遜等，儀器出現(xiàn)故障聯(lián)系凌科自動(dòng)化
我發(fā)現(xiàn)并且經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的是，預(yù)防性維護(hù)工作中斷了，他們甚至沒有檢查這些電池，他們甚至沒有更換這些電池，他們沒有對(duì)他們(前所有者)進(jìn)行任何操作，也沒有對(duì)新所有者進(jìn)行檢查，因此，假設(shè)客戶購買了機(jī)器，然后將其鉤住。 這些故障是由于電子元件主體，電線和印刷儀器維修之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)引起的(圖1.3)，4圖1.曲率變化越快，PCB與組件之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)越多，這會(huì)增加焊點(diǎn)中的應(yīng)力并縮短疲勞壽命[5]，在共振過程中，相對(duì)運(yùn)動(dòng)為劇烈。
梅特勒自動(dòng)水份滴定儀維修規(guī)模大
1、顯示屏無法正常顯示
當(dāng)硬度計(jì)顯示屏無法正確顯示信息時(shí)，先檢查電源是否正確連接。如果電源連接正常但顯示屏仍然不活動(dòng)，則可能表示屏幕出現(xiàn)故障。這種情況，建議將硬度計(jì)送回廠家維修或更換屏幕。
2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
如果硬度計(jì)在測試過程中顯示讀數(shù)不穩(wěn)定或出現(xiàn)明顯偏差，可能的原因包括：
缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊(cè)中的說明。
測試環(huán)境不穩(wěn)定：硬度測試應(yīng)在穩(wěn)定的環(huán)境下進(jìn)行，避免外界干擾。不良的測試環(huán)境可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。解決辦法是測試時(shí)選擇安靜且溫度穩(wěn)定的環(huán)境，避免其他設(shè)備的干擾。
樣品制備不當(dāng)：在硬度測試之前，必須對(duì)樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測試結(jié)果。解決方案是在測試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
KiCad可以認(rèn)為已經(jīng)足夠成熟，可以成功地開發(fā)和維護(hù)復(fù)雜的電子板，它沒有任何儀器維修尺寸限制，并且可以輕松處理多達(dá)32個(gè)銅層，多達(dá)14個(gè)技術(shù)層和多達(dá)4個(gè)層，KiCad可以創(chuàng)建構(gòu)建印制板所需的所有文件，用于照片繪圖儀的Gerber文件。 對(duì)于電子設(shè)備，在維修過程中始終可能會(huì)丟失重要信息，例如，必須拔下存儲(chǔ)電池才能進(jìn)行維修，在某些情況下，長時(shí)間關(guān)閉電源可能會(huì)丟失信息，失敗的常見原因諸如伺服驅(qū)動(dòng)器，電源，放大器，HMI顯示器以及帶有印刷儀器維修(PCB或PWB)的任何電子設(shè)備之類的工業(yè)電子產(chǎn)品。 測試試樣的設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)如19所示，梳狀結(jié)構(gòu)測試試樣梳狀結(jié)構(gòu)測試試樣的示意65灰塵沉積密度的估算在GR-63-CORE[54]中，它根據(jù)二分采樣器的測量結(jié)果提供了室內(nèi)和室外污染物的年均水，采樣器將收集到的顆粒分為兩種模式:細(xì)顆粒(小于或等于2.5米)和粗顆粒(2.5至15.0米)。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測試樣品，長時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對(duì)硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
一些先進(jìn)的硬度計(jì)具有自動(dòng)轉(zhuǎn)換功能，但有時(shí)可能無法運(yùn)行。解決方法是檢查硬度計(jì)設(shè)置，確保正確選擇硬度標(biāo)準(zhǔn)和換算單位
91對(duì)于包含散布范圍非常大的電子組件的系統(tǒng)，發(fā)現(xiàn)該精度水已足夠，同樣，在2.PCB上獲得的仿真和測試結(jié)果比1.PCB更好(表5，9)，所遇到的不一致可能是由于這些組件的可接受尺寸存在較大差異，其對(duì)疲勞壽命的影響可以在一定程度上反映到模擬中。 如果您不熟悉不同的1336系列和型號(hào)，則可能不會(huì)意識(shí)到13印刷儀器維修實(shí)際上是每個(gè)電子組件的基本基板，組裝工程師通常不會(huì)意識(shí)到印刷電路材料的物理局限性和裸板制造工藝的復(fù)雜性，組裝工程師通常期望PCB符合其購買規(guī)范。 問題在于在板制造商現(xiàn)場幾乎從未檢測到黑墊，而在組裝完畢后，當(dāng)板填充時(shí)才發(fā)現(xiàn)黑墊，一旦組裝商發(fā)現(xiàn)了問題，PCB制造商，組裝商，ENIG供應(yīng)商和顧問之間就會(huì)發(fā)生責(zé)任歸咎于誰的責(zé)任，無論解決方案是什么，對(duì)于每個(gè)人來說。
審核ECM的功能評(píng)估電子承包商的知識(shí)產(chǎn)權(quán)安全工作的一種好方法是查看。對(duì)制造商如何開展業(yè)務(wù)的現(xiàn)場觀察令開眼界：訪客是否經(jīng)過嚴(yán)格審查和監(jiān)控物理和數(shù)字文件是否安全保存在通關(guān)方面是否對(duì)文件進(jìn)行了適當(dāng)?shù)臉?biāo)記ECM自己的員工是否需要通行許可才能進(jìn)入禁區(qū)Matric集團(tuán)的電子IP安全為了進(jìn)一步說明您的IP應(yīng)該有多安全，請(qǐng)考慮我們?yōu)榇_保IP在整個(gè)開發(fā)階段的安全而采取的詳盡步驟。外發(fā)門戶，我們通過這些門戶發(fā)送測試，檢查和認(rèn)證文檔安全的傳入信息網(wǎng)絡(luò)使用受保護(hù)的程序（即Office365）每15分鐘備份一次數(shù)據(jù)不能從外部（辦公室）訪問任何與IP相關(guān)的數(shù)據(jù)當(dāng)您進(jìn)行現(xiàn)場訪問時(shí)，應(yīng)注意其他現(xiàn)場物理過程，例如Matric/Dynamic中的過程：ECM系統(tǒng)受密碼保護(hù)并受ITAR控制。
如果您的新客戶遇到問題，那對(duì)您來說將是災(zāi)難性的，如果我們不知道為什么會(huì)發(fā)生故障，那么我們很難阻止它，"作為供應(yīng)商，米拉德(Milad)親眼目睹了黑墊可能造成的損害，這超出了生產(chǎn)有缺陷的儀器維修的成本，Milad說。 它們可幫助您避免機(jī)械意外停機(jī)，1.嘈雜的伺服設(shè)備如果伺服設(shè)備的聲音比時(shí)大，請(qǐng)不要忽略聲音，當(dāng)您的伺服組件變得嘈雜時(shí)，噪音可能意味著軸承已磨損，鍵槽已磨損，軸安裝不正確和/或風(fēng)扇工作不正常，2.繪制高安培數(shù)當(dāng)您的伺服設(shè)備汲取高安培電流時(shí)。 圖6.[微波紋管冷卻":噴水或其他冷卻液撞擊到芯片的背面，波紋管結(jié)構(gòu)對(duì)于適應(yīng)熱膨脹是必要的[6.32]，通過[微波紋管"原理進(jìn)行的直接液體冷卻如圖6.29所示，此處，冷卻液射流擊中芯片的背面，可獲得約1。 步是清除這些碎片，當(dāng)我們清除電路中的灰塵時(shí)，我們喜歡使用天然纖維，原因是我們看到天然纖維刷傾向于產(chǎn)生少得多的靜電，這會(huì)損害諸，，如處理器和微控制器之類的精密集成電路，另外，它們的磨損快得多，并且在使用之間容易清洗。 鉆孔文件，組件位置文件等等，它是開源的(已獲得GPL許可)，對(duì)于面向具有開放源代碼的電子硬件創(chuàng)建項(xiàng)目的項(xiàng)目而言，它是理想的工具，繪制電子原理圖1.先在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行KiCad，您可以進(jìn)入KiCad項(xiàng)目管理器的主窗口。
結(jié)果是由于冷卻不足而導(dǎo)致所提供設(shè)備的高溫警報(bào)。VFD旨在克服系統(tǒng)中一定量的電壓中斷。但是，如果超出了此類故障的VFD規(guī)格，則VFD將關(guān)閉。在這種情況下，先認(rèn)為電子驅(qū)動(dòng)器有故障。但是，對(duì)VFD操作參數(shù)的研究以及在系統(tǒng)電源傳輸期間記錄電壓和電流值揭示了問題的真正原因：轉(zhuǎn)換開關(guān)時(shí)間通常太長，無法支持VFD操作。在另一種情況下，當(dāng)從備用電源供電時(shí)，VAV終端中的VFD將脫機(jī)跳閘。發(fā)現(xiàn)問題是備用發(fā)電機(jī)無法提供足夠的電能質(zhì)量來操作VFD。備用電源上的電壓波動(dòng)會(huì)導(dǎo)致VFD跳閘。解決方案是在使用備用電源時(shí)將VFD置于旁路運(yùn)行狀態(tài)，從而繞過電子變速控制。電能質(zhì)量問題的根源電子設(shè)備通過吸收交流電并將其轉(zhuǎn)換為直流電以供電子組件使用來進(jìn)行操作。
其他各種導(dǎo)向柱-膠帶接觸的垂直固定金屬柱。應(yīng)該清洗，但很少需要調(diào)整。皮帶-各種尺寸的黑色橡皮筋-典型的運(yùn)輸設(shè)備通常在甲板下方有0至4條皮帶。這些將在幾年后需要更換。清潔并檢查。膠帶甲板清潔和橡膠零件更換的一般指南以下步驟適用于動(dòng)臂箱，盒式錄音帶，微型盒式磁帶和其他便攜式錄音機(jī)，開放式錄音帶式錄音帶以及電話答錄機(jī)。盡管這些設(shè)備中使用的磁帶傳送器比VCR和其他螺旋掃描記錄設(shè)備中使用的磁帶傳送器復(fù)雜，但是一些常規(guī)維護(hù)對(duì)于防止將來出現(xiàn)問題可能會(huì)大有幫助。應(yīng)定期檢查和清潔所有路標(biāo)，輪轂和橡膠零件-多久一次取決于使用情況。當(dāng)然，除非出了點(diǎn)問題，否則沒人真正做到這一點(diǎn)。Qtips和酒精（可以使用91％的，好是純異丙基。
梅特勒自動(dòng)水份滴定儀維修規(guī)模大您以高濕度和高溫的形式應(yīng)用于電子組件，以暴露在資格測試期間會(huì)失效的組件。該測試將標(biāo)準(zhǔn)的85°C/85％RH（相對(duì)濕度）偏差測試擴(kuò)展到了高于100°C的溫度。使用ESS預(yù)測故障您可以使用加速應(yīng)力測試的結(jié)果來預(yù)測正常運(yùn)行條件下的故障率。以下示例說明了如何使用高溫下的故障數(shù)量來數(shù)學(xué)預(yù)測正常工作溫度為25°C時(shí)的故障數(shù)量。根據(jù)在這些溫度下的壓力測試所測得的結(jié)果，組件的MTTF（均失效時(shí)間）在125°C的高溫下為1000小時(shí)，在175°C的情況下為600小時(shí)。您可以在正常的室溫25°C和較高的環(huán)境溫度50°C下計(jì)算MTTF。ESS測試的類型ESS使用以下測試將產(chǎn)品暴露于壓力環(huán)境中，并獲取有關(guān)故障和設(shè)計(jì)缺陷的信息。 kjbaeedfwerfws
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我發(fā)現(xiàn)并且經(jīng)常發(fā)現(xiàn)的是，預(yù)防性維護(hù)工作中斷了，他們甚至沒有檢查這些電池，他們甚至沒有更換這些電池，他們沒有對(duì)他們(前所有者)進(jìn)行任何操作，也沒有對(duì)新所有者進(jìn)行檢查，因此，假設(shè)客戶購買了機(jī)器，然后將其鉤住。 這些故障是由于電子元件主體，電線和印刷儀器維修之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)引起的(圖1.3)，4圖1.曲率變化越快，PCB與組件之間的相對(duì)運(yùn)動(dòng)越多，這會(huì)增加焊點(diǎn)中的應(yīng)力并縮短疲勞壽命[5]，在共振過程中，相對(duì)運(yùn)動(dòng)為劇烈。
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1、顯示屏無法正常顯示
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2、讀數(shù)不穩(wěn)定或顯著偏差
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缺乏校準(zhǔn)：硬度計(jì)在使用前需要校準(zhǔn)，以確保準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性。長期缺乏校準(zhǔn)或校準(zhǔn)不當(dāng)可能會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不準(zhǔn)確。解決方案是定期校準(zhǔn)并遵循硬度計(jì)手冊(cè)中的說明。
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樣品制備不當(dāng)：在硬度測試之前，必須對(duì)樣品進(jìn)行的制備。樣品的表面不規(guī)則性、雜質(zhì)或涂層可能會(huì)影響測試結(jié)果。解決方案是在測試前清潔和拋光樣品，以確保表面光滑。
KiCad可以認(rèn)為已經(jīng)足夠成熟，可以成功地開發(fā)和維護(hù)復(fù)雜的電子板，它沒有任何儀器維修尺寸限制，并且可以輕松處理多達(dá)32個(gè)銅層，多達(dá)14個(gè)技術(shù)層和多達(dá)4個(gè)層，KiCad可以創(chuàng)建構(gòu)建印制板所需的所有文件，用于照片繪圖儀的Gerber文件。 對(duì)于電子設(shè)備，在維修過程中始終可能會(huì)丟失重要信息，例如，必須拔下存儲(chǔ)電池才能進(jìn)行維修，在某些情況下，長時(shí)間關(guān)閉電源可能會(huì)丟失信息，失敗的常見原因諸如伺服驅(qū)動(dòng)器，電源，放大器，HMI顯示器以及帶有印刷儀器維修(PCB或PWB)的任何電子設(shè)備之類的工業(yè)電子產(chǎn)品。 測試試樣的設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)如19所示，梳狀結(jié)構(gòu)測試試樣梳狀結(jié)構(gòu)測試試樣的示意65灰塵沉積密度的估算在GR-63-CORE[54]中，它根據(jù)二分采樣器的測量結(jié)果提供了室內(nèi)和室外污染物的年均水，采樣器將收集到的顆粒分為兩種模式:細(xì)顆粒(小于或等于2.5米)和粗顆粒(2.5至15.0米)。
3、壓頭磨損或損壞
硬度計(jì)的壓頭直接接觸測試樣品，長時(shí)間使用后可能會(huì)出現(xiàn)磨損或損壞。當(dāng)壓頭出現(xiàn)磨損或損壞跡象時(shí)，可能會(huì)導(dǎo)致測試錯(cuò)誤。解決辦法是定期檢查壓頭的狀況，如果發(fā)現(xiàn)明顯磨損或損壞，應(yīng)及時(shí)更換。
4、讀數(shù)異常大或小
如果硬度計(jì)讀數(shù)明顯偏離標(biāo)準(zhǔn)值，可能的原因包括：
壓力調(diào)整不當(dāng)：硬度計(jì)在測試時(shí)需要施加一定的壓力，壓力過大或不足都可能導(dǎo)致讀數(shù)異常。解決方法是根據(jù)樣品的硬度特性調(diào)整測試壓力。
硬度計(jì)的內(nèi)部問題：硬度計(jì)的內(nèi)部組件可能會(huì)出現(xiàn)故障，導(dǎo)致測試結(jié)果不準(zhǔn)確。解決辦法是對(duì)硬度計(jì)進(jìn)行定期維護(hù)，并按照制造商的說明進(jìn)行維修或更換部件。
5、無法執(zhí)行自動(dòng)轉(zhuǎn)換
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如果您的新客戶遇到問題，那對(duì)您來說將是災(zāi)難性的，如果我們不知道為什么會(huì)發(fā)生故障，那么我們很難阻止它，"作為供應(yīng)商，米拉德(Milad)親眼目睹了黑墊可能造成的損害，這超出了生產(chǎn)有缺陷的儀器維修的成本，Milad說。 它們可幫助您避免機(jī)械意外停機(jī)，1.嘈雜的伺服設(shè)備如果伺服設(shè)備的聲音比時(shí)大，請(qǐng)不要忽略聲音，當(dāng)您的伺服組件變得嘈雜時(shí)，噪音可能意味著軸承已磨損，鍵槽已磨損，軸安裝不正確和/或風(fēng)扇工作不正常，2.繪制高安培數(shù)當(dāng)您的伺服設(shè)備汲取高安培電流時(shí)。 圖6.[微波紋管冷卻":噴水或其他冷卻液撞擊到芯片的背面，波紋管結(jié)構(gòu)對(duì)于適應(yīng)熱膨脹是必要的[6.32]，通過[微波紋管"原理進(jìn)行的直接液體冷卻如圖6.29所示，此處，冷卻液射流擊中芯片的背面，可獲得約1。 步是清除這些碎片，當(dāng)我們清除電路中的灰塵時(shí)，我們喜歡使用天然纖維，原因是我們看到天然纖維刷傾向于產(chǎn)生少得多的靜電，這會(huì)損害諸，，如處理器和微控制器之類的精密集成電路，另外，它們的磨損快得多，并且在使用之間容易清洗。 鉆孔文件，組件位置文件等等，它是開源的(已獲得GPL許可)，對(duì)于面向具有開放源代碼的電子硬件創(chuàng)建項(xiàng)目的項(xiàng)目而言，它是理想的工具，繪制電子原理圖1.先在計(jì)算機(jī)上運(yùn)行KiCad，您可以進(jìn)入KiCad項(xiàng)目管理器的主窗口。
結(jié)果是由于冷卻不足而導(dǎo)致所提供設(shè)備的高溫警報(bào)。VFD旨在克服系統(tǒng)中一定量的電壓中斷。但是，如果超出了此類故障的VFD規(guī)格，則VFD將關(guān)閉。在這種情況下，先認(rèn)為電子驅(qū)動(dòng)器有故障。但是，對(duì)VFD操作參數(shù)的研究以及在系統(tǒng)電源傳輸期間記錄電壓和電流值揭示了問題的真正原因：轉(zhuǎn)換開關(guān)時(shí)間通常太長，無法支持VFD操作。在另一種情況下，當(dāng)從備用電源供電時(shí)，VAV終端中的VFD將脫機(jī)跳閘。發(fā)現(xiàn)問題是備用發(fā)電機(jī)無法提供足夠的電能質(zhì)量來操作VFD。備用電源上的電壓波動(dòng)會(huì)導(dǎo)致VFD跳閘。解決方案是在使用備用電源時(shí)將VFD置于旁路運(yùn)行狀態(tài)，從而繞過電子變速控制。電能質(zhì)量問題的根源電子設(shè)備通過吸收交流電并將其轉(zhuǎn)換為直流電以供電子組件使用來進(jìn)行操作。
其他各種導(dǎo)向柱-膠帶接觸的垂直固定金屬柱。應(yīng)該清洗，但很少需要調(diào)整。皮帶-各種尺寸的黑色橡皮筋-典型的運(yùn)輸設(shè)備通常在甲板下方有0至4條皮帶。這些將在幾年后需要更換。清潔并檢查。膠帶甲板清潔和橡膠零件更換的一般指南以下步驟適用于動(dòng)臂箱，盒式錄音帶，微型盒式磁帶和其他便攜式錄音機(jī)，開放式錄音帶式錄音帶以及電話答錄機(jī)。盡管這些設(shè)備中使用的磁帶傳送器比VCR和其他螺旋掃描記錄設(shè)備中使用的磁帶傳送器復(fù)雜，但是一些常規(guī)維護(hù)對(duì)于防止將來出現(xiàn)問題可能會(huì)大有幫助。應(yīng)定期檢查和清潔所有路標(biāo)，輪轂和橡膠零件-多久一次取決于使用情況。當(dāng)然，除非出了點(diǎn)問題，否則沒人真正做到這一點(diǎn)。Qtips和酒精（可以使用91％的，好是純異丙基。
梅特勒自動(dòng)水份滴定儀維修規(guī)模大您以高濕度和高溫的形式應(yīng)用于電子組件，以暴露在資格測試期間會(huì)失效的組件。該測試將標(biāo)準(zhǔn)的85°C/85％RH（相對(duì)濕度）偏差測試擴(kuò)展到了高于100°C的溫度。使用ESS預(yù)測故障您可以使用加速應(yīng)力測試的結(jié)果來預(yù)測正常運(yùn)行條件下的故障率。以下示例說明了如何使用高溫下的故障數(shù)量來數(shù)學(xué)預(yù)測正常工作溫度為25°C時(shí)的故障數(shù)量。根據(jù)在這些溫度下的壓力測試所測得的結(jié)果，組件的MTTF（均失效時(shí)間）在125°C的高溫下為1000小時(shí)，在175°C的情況下為600小時(shí)。您可以在正常的室溫25°C和較高的環(huán)境溫度50°C下計(jì)算MTTF。ESS測試的類型ESS使用以下測試將產(chǎn)品暴露于壓力環(huán)境中，并獲取有關(guān)故障和設(shè)計(jì)缺陷的信息。 kjbaeedfwerfws
