主營產品：IC測試座,IC老化座，DDR測試治具
13631538587（手機）
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￥3500.00
￥1800.00
| 詳細參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| 品牌 | ANDK | 型號 | 3225晶振測試座 |
| 支持卡數(shù) | 單卡 | 讀卡類型 | IC |
| 外形結構 | 矩形 | 制作工藝 | 注塑 |
| 特性 | 耐溫 | 加工定制 | 是 |
| 針數(shù) | ８針 | 類型 | 翻蓋式 |
| 工作頻率 | 低頻 | 接觸體材質 | 鈹銅 |
| 絕緣體材質 | PA6T | 應用范圍 | 晶振燒錄,老化,編程序 |
| 產地 | 深圳 | ||
3.2×1.5-2PIN晶振探針老化座/測試座
（通孔焊接型）
產品簡介
一、產品用途:老化座、測試座，對3215（3.2*1.5mm）的晶振IC進行高低溫老化測試
二、適用封裝: 3215（3.2*1.5mm）-2PIN貼片晶振
三、探針結構，接觸穩(wěn)定、體積小。
四、采用特殊的工程塑膠，強度高、壽命長
五、鍍金層加厚，觸點加厚電鍍，超低接觸阻抗、高可靠度，使用壽命（翻蓋結構20000次）
六、我司可提供規(guī)格書（布板圖）資料，PDF檔\CAD檔
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