錫膏厚度測量儀是一種利用光學(xué)原理，快速測量印刷電路板上的錫膏塊的厚度等幾何元素的非接觸式測量儀器，廣泛應(yīng)用于SMT（Surface Mount Technology）生產(chǎn)貼片領(lǐng)域，是評(píng)價(jià)和管控錫膏印刷質(zhì)量的重要測量設(shè)備。

　　10月25日，全國新材料與納米計(jì)量技術(shù)委員會(huì)發(fā)布了《錫膏厚度測量儀校準(zhǔn)規(guī)范》征求意見稿，并面向全國有關(guān)單位征求意見。

　　本規(guī)范由廣東省計(jì)量科學(xué)研究院、山東省計(jì)量科學(xué)研究院、蘇州市計(jì)量測試院、中國計(jì)量科學(xué)研究院、廣州計(jì)量檢測技術(shù)研究院和天津大學(xué)負(fù)責(zé)制定。

　　本規(guī)范主要依據(jù)JJF1071-2010《國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則》進(jìn)行編制，JJF1001-2011《通用計(jì)量術(shù)語及定義》、JJF1059.1-2012《測量不確定度評(píng)定與表示》、JJF 1094-2002《測量儀器特性評(píng)定》共同構(gòu)成支撐校準(zhǔn)規(guī)范制定工作的基礎(chǔ)性系列規(guī)范。

　　本規(guī)范為首次制定，主要技術(shù)內(nèi)容和計(jì)量特性參考了JJF 1306-2011 《X射線熒光鍍層測厚儀校準(zhǔn)規(guī)范》和JJG 818-2005 《磁性、電渦流式覆層厚度測量儀檢定規(guī)程》的部分內(nèi)容。

　　按照J(rèn)JF 1071—2010《國家計(jì)量校準(zhǔn)規(guī)范編寫規(guī)則》的要求制定錫膏厚度測量儀校準(zhǔn)規(guī)范，在內(nèi)容和格式上與JJF 1071—2010保持一致。校準(zhǔn)規(guī)范的具體內(nèi)容有范圍、概述、計(jì)量特性、校準(zhǔn)條件、校準(zhǔn)項(xiàng)目和校準(zhǔn)方法、校準(zhǔn)結(jié)果的表達(dá)、復(fù)校時(shí)間間隔等。

　　本規(guī)范適用于分辨力為（0.1-1）m、測量范圍不大于600m的錫膏厚度測量儀的校準(zhǔn)。

　　目前使用中的錫膏厚度測量儀的測量范圍大多在（20-400）μm左右，部分新的儀器最大厚度可達(dá)到1mm以上。根據(jù)查詢資料及調(diào)研統(tǒng)計(jì)，大部分錫膏測厚儀的常用范圍在（100-150）μm，極少有達(dá)到幾百微米以上，實(shí)際上不可能將錫膏做到這么大的厚度。起草組經(jīng)討論后決定將規(guī)范適用范圍定為（0-600）μm，最大校準(zhǔn)點(diǎn)達(dá)到測量上限的2/3，故標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階塊最大厚度達(dá)到400 μm即可。